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X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪

X-Strata920X射线荧光镀层测厚仪 其他材料检测仪器

  • 简介:利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。 X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀
产品详细

利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
      X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
       它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供:
•       无损分析:无需样品制备
•       经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
•       操作简单,只需要简单的培训
•       分析只需三步骤
•       杰出的分析准确性和精确性
•       在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
 产品优势
 高性能、高精度、长期稳定性
 
•       快速精确的分析带来生产成本最优化
•       精确测定元素厚度
•       优化的性能可满足广泛的元素测量
  坚固耐用的设计
•       可靠近生产线或在实验室操作
•       生产人员易于使用
  简单的校准调试
•       在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
•       方法建立只需几分钟
•       我们提供认证标准片以确保最佳精确度(A2LA 和 ISO/IEC17025)
•       预置了多种校准参数
 可分析多种样品形状和尺寸
•       可分析多种样品类型,从微小的电子元件到浴室配件
•       提供多种硬件供选配,满足各种需要 
 
行业及市场
电子行业 - 有效控制生产过程,提高生产力
•       分析电子件上的金和钯的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
•       测量线路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
五金电镀行业- 电镀表面处理的成本最小化,产量最大化
•       多样品和多点分析
•       单层或多层厚度测量
•       镀液成份分析
贵金属/金属合金 - 珠宝及其他合金的快速无损分析
•       黄金分析及其他元素测定
•       贵金属合金检测
 
X-Strata920 - 三种配置选项
 X-Strata920 - 三种配置满足您的需要:
固定样品台
 开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品,如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
经济、实用
平面样品台设计,适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析
 
加深样品台
 高度每英寸(25.4mm)可调,架构式样品舱可容纳最大高度6.3"(160mm)的样品
可以选4个样品盘中任一个来盛放不同高度的样品
开槽式样品舱允许检测从小部件到大型平板样品等各种样品,如印制线路板。样品的尺寸可以超出仪器宽度
 
程控样品台
 用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品,并精准定位测量点
开槽式样品舱允许检测大型平板样品,如印制线路板
样品台尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (宽)

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